Il National Institute of Standards and Technology (NIST) ha acquisito lo strumento Steady State Thermal Reflection in Fiber (SSTR-F) da Laser Thermal. Questa acquisizione ha lo scopo di migliorare la capacità del NIST di misurare la conduttività termica di vari materiali utilizzati nei componenti microelettronici, contribuendo così al programma di misurazione delle proprietà termiche CHIPS for America.

L’SSTR-F del laser termico consente misurazioni senza contatto e non distruttive adatte a film sottili, interfacce e materiali sfusi. Questo strumento aiuterà il NIST ad affrontare le principali sfide di misurazione identificate nell’industria, nel mondo accademico e nelle agenzie governative.

Il programma di misurazione CHIPS si concentra su misurazioni precise e accurate della produzione microelettronica. Affronta sette sfide chiave, tra cui la misurazione avanzata per la produzione futura e il miglioramento della sicurezza dei componenti microelettronici.

John Gaskins, CEO di Laser Thermal, ha sottolineato l’importanza di SSTR-F nel fornire dati e protocolli all’industria dei semiconduttori, soprattutto in considerazione della crescente necessità di una gestione termica efficiente in applicazioni ad alta potenza come l’intelligenza artificiale e i data center.

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